Microscopia elettronica a scansione e microanalisi a raggi X: Un testo per biologi, scienziati dei materiali e geologi

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Microscopia elettronica a scansione e microanalisi a raggi X: Un testo per biologi, scienziati dei materiali e geologi (Joseph Goldstein)

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Titolo originale:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

Contenuto del libro:

Questo libro si è evoluto per selezione ed espansione dal suo predecessore, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), pubblicato da Plenum Press nel 1975.

L'interazione degli autori con gli studenti del Corso breve di microscopia elettronica a scansione e microanalisi a raggi X che si tiene annualmente alla Lehigh University ha contribuito notevolmente allo sviluppo di questo libro di testo. Il materiale è stato scelto per fornire agli studenti un'introduzione generale alle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi a raggi X, adatta all'applicazione in campi quali la biologia, la geologia, la fisica dello stato solido e la scienza dei materiali.

Seguendo il formato del PSEM, questo libro fornisce allo studente una conoscenza di base di (1) le funzioni controllate dall'utente delle ottiche elettroniche del microscopio elettronico a scansione e della microsonda elettronica, (2) le caratteristiche delle interazioni tra fascio di elettroni e campione, (3) la formazione e l'interpretazione delle immagini, (4) la spettrometria a raggi X e (5) la microanalisi quantitativa a raggi X. Ognuno di questi argomenti è stato aggiornato e, nella maggior parte dei casi, ampliato rispetto al materiale presentato in PSEM, al fine di fornire al lettore una copertura sufficiente per comprendere questi argomenti e applicare le informazioni in laboratorio. In tutto il testo, abbiamo cercato di enfatizzare gli aspetti pratici delle tecniche, descrivendo quei parametri strumentali che il microscopista può e deve manipolare per ottenere informazioni ottimali dal campione.

Alcune aree in particolare sono state ampliate in risposta alla loro crescente importanza nel campo dei SEM. Ad esempio, la spettrometria a raggi X a dispersione di energia, che ha subito un'enorme crescita, viene trattata in modo molto dettagliato.

Altre informazioni sul libro:

ISBN:9781461332756
Autore:
Editore:
Lingua:inglese
Rilegatura:Copertina morbida

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Ultima modifica: 2024.11.08 20:28 (GMT)