Microscopia elettronica a scansione e microanalisi a raggi X: Terza edizione

Recensioni dei lettori

Il libro sulla microscopia elettronica a scansione (SEM) riceve recensioni estremamente positive da parte degli utenti, che ne lodano la chiarezza, l'organizzazione e la completezza. Viene indicato come un riferimento definitivo sia per i principianti che per gli utenti esperti. Gli utenti apprezzano le illustrazioni e lo stile di scrittura comprensibile, che rende più accessibili concetti complessi. Tuttavia, alcune critiche menzionano la verbosità e i problemi legati alle condizioni di alcune copie ricevute.

⬤ Ben organizzato e informativo
⬤ scrittura chiara e concisa
⬤ facile da usare sia per i principianti che per gli utenti esperti
⬤ illustrazioni eccellenti
⬤ copertura completa dei fondamenti e delle tecniche SEM
⬤ spedizione veloce
⬤ buone condizioni delle copie nuove.

⬤ Alcune recensioni parlano di verbosità a volte
⬤ alcune copie sono state ricevute in condizioni non perfette
⬤ i tempi di consegna di Amazon sono stati più lunghi del previsto.

(basato su 24 recensioni dei lettori)

Titolo originale:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Contenuto del libro:

Un testo ideale sia per gli studenti che per i professionisti, un'introduzione completa al campo della microscopia elettronica a scansione (SEM) e della microanalisi a raggi X.

Il testo è stato utilizzato per istruire oltre 3.000 studenti al corso breve SEM di Lehigh e migliaia di studenti universitari e laureati in tutto il mondo. Gli autori sottolineano gli aspetti pratici delle tecniche descritte.

Gli argomenti trattati includono le funzioni controllate dall'utente dei microscopi elettronici a scansione e degli spettrometri a raggi X e l'uso dei raggi X per l'analisi qualitativa e quantitativa. Capitoli separati trattano i metodi di preparazione dei campioni SEM per materiali duri, polimeri e campioni biologici.