Microscopia elettronica a scansione e microanalisi a raggi X: Terza edizione

Recensioni dei lettori

Il libro sulla microscopia elettronica a scansione (SEM) è molto apprezzato come risorsa completa e accessibile sia per i principianti che per gli utenti esperti. Copre i principi fondamentali e i dettagli tecnici in modo chiaro e conciso, rendendolo una scelta eccellente per chi lavora con i SEM. Sebbene il libro sia apprezzato per l'organizzazione, le illustrazioni e la profondità delle informazioni, alcuni lettori notano che a volte può essere prolisso e che ci sono piccoli problemi di consegna e di condizioni.

Stile di scrittura chiaro e conciso, struttura ben illustrata e organizzata, copre sia i fondamenti che i contenuti tecnici dettagliati, adatto sia ai principianti che agli utenti esperti, eccellente materiale di riferimento, prezzo ragionevole.

A volte è un po' prolisso, sono stati segnalati lievi ritardi nella consegna, problemi di condizioni con alcune copie (pagine allentate), alcuni utenti segnalano che le equazioni potrebbero essere migliorate.

(basato su 24 recensioni dei lettori)

Titolo originale:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Contenuto del libro:

Un testo ideale sia per gli studenti che per i professionisti, un'introduzione completa al campo della microscopia elettronica a scansione (SEM) e della microanalisi a raggi X.

Il testo è stato utilizzato per istruire oltre 3.000 studenti al corso breve SEM di Lehigh e migliaia di studenti universitari e laureati in tutto il mondo. Gli autori sottolineano gli aspetti pratici delle tecniche descritte.

Gli argomenti trattati includono le funzioni controllate dall'utente dei microscopi elettronici a scansione e degli spettrometri a raggi X e l'uso dei raggi X per l'analisi qualitativa e quantitativa. Capitoli separati trattano i metodi di preparazione dei campioni SEM per materiali duri, polimeri e campioni biologici.