Titolo originale:
Scientific Researches in Atomic Force Microscopy
Contenuto del libro:
Questo libro illustra le ricerche scientifiche nel campo della microscopia a forza atomica.
L'invenzione del microscopio a forza atomica (AFM) ha portato drastici cambiamenti nel campo dell'analisi delle superfici. Si è rivelato una risorsa e un metodo di indagine fondamentale, utilizzato per lo studio qualitativo e quantitativo delle superfici con risoluzioni sub-nanometriche.
Inoltre, i campioni analizzati con questo microscopio non necessitano di procedure di preparazione preliminari. In questo modo si evitano alterazioni o effetti negativi che potrebbero danneggiare il campione, consentendo al contempo uno studio tridimensionale della superficie esterna. Questo libro presenta gli ultimi lavori dei maestri di questo metodo in tutto il mondo.
Questo metodo è stato accettato per ottenere informazioni importanti in diversi campi. Dal suo esordio nel 1986, ha trovato molteplici impieghi nei settori della produzione, della ricerca e del progresso.
Altre informazioni sul libro:
| ISBN: | 9781632384096 |
| Autore: | |
| Editore: | |
| Lingua: | inglese |
| Rilegatura: | Copertina rigida |
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