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Titolo originale:
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide
Contenuto del libro:
L'ellissometria viene utilizzata per misurare lo spessore e le proprietà ottiche dei film sottili.
Negli ultimi anni, la spettroscopia ellissometrica e la riflettometria ad essa strettamente correlata hanno conquistato sempre più i laboratori industriali. Ciò crea la necessità di un'introduzione pratica per un pubblico interdisciplinare di scienziati dei materiali, fisici, chimici e ingegneri elettrici, come è stato fatto con questo libro.
(04/99)
Altre informazioni sul libro:
| ISBN: | 9780471181729 |
| Autore: | |
| Editore: | |
| Lingua: | inglese |
| Rilegatura: | Copertina rigida |
| Anno di pubblicazione: | 1999 |
| Numero di pagine: | 248 |
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