Un nuovo test di bontà di adattamento sequenziale per la distribuzione Gamma a tre parametri con forma nota, basato su skewness e curtosi

Un nuovo test di bontà di adattamento sequenziale per la distribuzione Gamma a tre parametri con forma nota, basato su skewness e curtosi (H. Park Chil)

Titolo originale:

A New Sequential Goodness of Fit Test for the Three-Parameter Gamma Distribution with Known Shape Based on Skewness and Kurtosis

Contenuto del libro:

Questa ricerca presenta un test sequenziale di bontà di adattamento per la distribuzione gamma a tre parametri con forma nota.

Il test è realizzato impiegando in sequenza i due nuovi test, la skewness e la curtosi campionarie, come statistiche di prova. A differenza dei tipici test di bontà di adattamento che utilizzano metodi di stima dei parametri come MLE (stima della massima verosimiglianza) e MD (stima della minima distanza).

Questi test di bontà di adattamento sequenziali che utilizzano le due statistiche di prova sopra citate non comportano un grado sostanziale di complessità computazionale. I valori critici sono ottenuti con ampie simulazioni Monte Carlo, che utilizzano la funzione "percentile", per forme di 0,5(0,5)4,0 e dimensioni campionarie di 5(5)50. Anche i livelli di significatività raggiunti per tutte le combinazioni dei due test tra = 0:01(0:01)0:20 sono approssimati con simulazioni Monte Carlo.

Vengono quindi condotti studi approfonditi sulla potenza rispetto a due serie di alternative. Uno è contro distribuzioni alternative comuni e l'altro è uno studio comparativo il cui concorrente sono le statistiche dei test EDF più diffuse, come i test Anderson-Darling, Cramer-von Mises e Komogrov-Smirove.

Altre informazioni sul libro:

ISBN:9781249842279
Autore:
Editore:
Lingua:inglese
Rilegatura:Copertina morbida

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Ultima modifica: 2024.11.08 20:28 (GMT)