Presentazione dell'autore H. Park Chil:

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Un nuovo test di bontà di adattamento sequenziale per la distribuzione Gamma a tre parametri con forma nota, basato su skewness e curtosi - A New Sequential Goodness of Fit Test for the Three-Parameter Gamma Distribution with Known Shape Based on Skewness and Kurtosis
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Ultima modifica: 2024.11.08 20:28 (GMT)