Psidd3: Sistema di visualizzazione dei dati ultrasonici post-scansione per PC con sistema operativo Windows, comprendente l'analisi logica fuzzy

Psidd3: Sistema di visualizzazione dei dati ultrasonici post-scansione per PC con sistema operativo Windows, comprendente l'analisi logica fuzzy (Nasa National Aeronautics and Space Adm)

Titolo originale:

Psidd3: Post-Scan Ultrasonic Data Display System for the Windows-Based PC Including Fuzzy Logic Analysis

Contenuto del libro:

Post-Scan Interactive Data Display (PSIDD) III è un sistema Windows orientato all'utente che facilita la visualizzazione e il confronto dei dati di contatto a ultrasuoni. Il sistema è ottimizzato per confrontare le misurazioni a ultrasuoni effettuate in diverse posizioni all'interno di un materiale o in diversi stadi di degrado del materiale.

PSIDD III fornisce un'analisi completa delle forme d'onda primarie nel dominio del tempo e della frequenza, oltre al calcolo di diverse proprietà dipendenti dalla frequenza, come la velocità di fase e il coefficiente di attenuazione, e di diverse proprietà indipendenti dalla frequenza, come la velocità di correlazione incrociata. Il sistema consente di generare immagini su tutte le proprietà dipendenti dalla frequenza a qualsiasi frequenza disponibile (limitata dalla larghezza di banda utilizzata nelle scansioni) e su qualsiasi proprietà indipendente dalla frequenza. Dalle scansioni ultrasoniche di contatto, le aree di interesse su un'immagine possono essere studiate in relazione alle forme d'onda grezze sottostanti e alle proprietà ultrasoniche derivate, semplicemente selezionando il punto sull'immagine.

Il sistema offre diverse modalità di confronto approfondito tra i punti di scansione. È possibile selezionare fino a cinque punti di scansione contemporaneamente per l'analisi comparativa. Il sistema è stato sviluppato con il software Borland Delphi (Visual Pascal) e si basa su un database SQL.

È ideale per la classificazione delle proprietà dei materiali o per la localizzazione delle variazioni di microstruttura nei materiali. Lovelace, Jeffrey J. e Cios, Krzysztof J.

e Roth, Don J. e Cao, WeiGlenn Research CenterULTRASONICA; SCANNER ULTRASONICI; TEST ULTRASONICI; TEST NONDESTRUTTIVI; VALUTAZIONE; DISPOSITIVI DISPLAY; SISTEMI FUZZY; SET FUZZY; ALGORITMI; PROGRAMMI PER COMPUTER; ANALISI DELLE IMMAGINI; PASCAL (LINGUAGGIO DI PROGRAMMAZIONE)...

Altre informazioni sul libro:

ISBN:9781723876608
Autore:
Editore:
Rilegatura:Copertina morbida

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Ultima modifica: 2024.11.08 20:28 (GMT)