Progettazione VLSI avanzata e problemi di testabilità

Titolo originale:

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Contenuto del libro:

Questo libro facilita le persone interessate al VLSI non solo con una conoscenza approfondita, ma anche con gli aspetti più ampi, spiegando le sue applicazioni in diversi campi, tra cui l'elaborazione delle immagini e la biomedicina. La comprensione approfondita dei concetti di base dà la possibilità di sviluppare un nuovo aspetto applicativo, di cui questo libro si occupa molto bene utilizzando un linguaggio semplice nella spiegazione dei concetti.

Nel mondo VLSI non si può ignorare l'importanza dei linguaggi di descrizione hardware, senza i quali non è possibile progettare circuiti così densi e complessi. Per la progettazione vengono utilizzati sia il linguaggio Verilog che il VHDL. Le attuali esigenze dei circuiti integrati ad alte prestazioni (IC), compresi i dispositivi a bassa potenza e i nuovi materiali emergenti, che possono svolgere un ruolo molto importante nel raggiungimento di nuove funzionalità, sono la parte più interessante del libro.

Il collaudo dei circuiti VLSI diventa più cruciale della progettazione dei circuiti nell'era della tecnologia nanometrica.

Il ruolo degli algoritmi di simulazione dei guasti è spiegato molto bene e la loro implementazione con Verilog è l'aspetto chiave di questo libro. Questo libro è ben organizzato in 20 capitoli.

Il Capitolo 1 si concentra sull'uso dell'FPGA in varie applicazioni di elaborazione delle immagini e biomediche. Poi, nei capitoli 2-5, le descrizioni illuminano la comprensione di base della progettazione digitale dal punto di vista dell'HDL. Il miglioramento delle prestazioni con materiali o geometrie alternative per i progetti di FET basati sul silicio è illustrato nei capitoli 6 e 7.

I capitoli 8 e 9 descrivono lo studio delle interazioni bimolecolari con i FET di biosensing. I capitoli 10-13 trattano delle strutture FET avanzate disponibili in varie forme e materiali, quali nanowire e HFET, e del loro confronto in termini di calcolo delle metriche di prestazione del dispositivo. I capitoli 14-18 descrivono diverse tecniche di progettazione VLSI specifiche per le applicazioni e le sfide per i progetti di circuiti analogici e digitali.

Il capitolo 19 illustra i problemi di testabilità dei VLSI con la descrizione della simulazione e la sua categorizzazione in simulazione logica e di guasto per la generazione di modelli di test utilizzando Verilog HDL. Il capitolo 20 tratta di una progettazione VLSI protetta con offuscamento dell'hardware, nascondendo la struttura e la funzione del circuito integrato, il che rende molto più difficile il reverse engineering.