Introduzione alla spettrometria di massa a ioni secondari a tempo di volo (Tof-Sims) e alla sua applicazione alla scienza dei materiali

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Titolo originale:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Contenuto del libro:

Lo studio della materia oscura, sia in astrofisica che in fisica delle particelle, è emerso come uno dei temi di ricerca più attivi ed entusiasmanti degli ultimi anni.

Questo libro ripercorre la storia della scoperta della massa mancante (o massa invisibile) nell'Universo e la collega alle proposte di estensione del Modello Standard della fisica delle particelle (come la Supersimmetria), che venivano proposte nello stesso periodo. Questo libro è stato scritto come un'introduzione a questi problemi all'avanguardia dell'astrofisica e della fisica delle particelle, con l'obiettivo di trasmettere la fisica della materia oscura a studenti universitari alle prime armi in campo scientifico.

Il libro descrive gli esperimenti e le tecniche esistenti e future che saranno utilizzate per rilevare la materia oscura direttamente o indirettamente.