Spettrometria di massa a ioni secondari: Applicazioni per la profilatura della profondità e la caratterizzazione della superficie

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Titolo originale:

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Contenuto del libro:

Questo libro è stato scritto per spiegare una tecnica che richiede la comprensione di molti dettagli per ottenere e interpretare correttamente i dati ottenuti.

Servirà anche come riferimento per coloro che devono fornire dati SIMS. Il libro contiene oltre 200 figure e i riferimenti permettono di ripercorrere lo sviluppo della SIMS e di comprendere i numerosi dettagli della tecnica.