Spettrometria di fluorescenza a raggi X e tecniche correlate: Introduzione

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Titolo originale:

X-Ray Fluorescence Spectrometry and Related Techniques: An Introduction

Contenuto del libro:

La spettrometria di fluorescenza a raggi X (XRF) è una tecnica analitica consolidata per l'analisi elementare qualitativa e quantitativa di un'ampia varietà di campioni di routine per il controllo qualità e la ricerca. Tra le sue molte caratteristiche desiderabili, offre una vera e propria analisi di carattere multi-elemento, una velocità e un'economia accettabili, una facile automazione e la capacità di analizzare campioni solidi.

Questo notevole contributo al settore fornisce un resoconto completo e aggiornato dei principi di base, degli sviluppi recenti, della strumentazione, delle procedure di preparazione dei campioni e delle applicazioni dell'analisi XRF. Se siete professionisti della scienza dei materiali, della chimica analitica o della fisica, trarrete beneficio non solo dalla revisione delle nozioni di base, ma anche dalle nuove tecnologie sviluppate con la XRF.

I recenti progressi tecnologici, tra cui la progettazione di tubi di microfocalizzazione a bassa potenza e di nuove ottiche e rivelatori di raggi X, hanno reso possibile estendere l'XRF all'analisi di elementi a bassa Z e ottenere informazioni 2D o 3D su scala micrometrica. Inoltre, il recente sviluppo e la commercializzazione di strumentazione da banco e portatile, che offre un'estrema semplicità di funzionamento in un design a basso costo, hanno esteso le applicazioni della XRF a molti altri problemi analitici.