Recensioni dei lettori
Attualmente non ci sono recensioni dei lettori. La valutazione si basa su 3 voti.
Titolo originale:
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Contenuto del libro:
Il sistema a fascio ionico focalizzato (FIB) è uno strumento importante per comprendere e manipolare la struttura dei materiali su scala nanometrica.
Combinando questo sistema con un fascio di elettroni si ottiene un DualBeam, un unico sistema che può funzionare come strumento di imaging, analisi e modifica del campione. Presentando i principi, le capacità, le sfide e le applicazioni della tecnica FIB, questo volume, pubblicato per la prima volta nel 2007, copre in modo completo la tecnologia del fascio ionico, compreso il DualBeam.
Vengono trattati i principi di base dei sistemi a fascio ionico e a due fasci, la loro interazione con i materiali, l'incisione e la deposizione, nonché la caratterizzazione in situ dei materiali, la preparazione dei campioni, la ricostruzione tridimensionale e le applicazioni nei biomateriali e nelle nanotecnologie. Poiché i materiali nanostrutturati stanno diventando sempre più importanti nei dispositivi micromeccanici, elettronici e magnetici, questa rassegna completa della gamma di metodi a fascio ionico, dei loro vantaggi e dei casi in cui è meglio applicarli è una risorsa preziosa per i ricercatori in scienze dei materiali, ingegneria elettrica e nanotecnologie.
