Riflettometria neutronica e a raggi X: Fenomeni emergenti nelle interfacce delle eterostrutture

Titolo originale:

Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Contenuto del libro:

Il campo dei film ultrasottili, un sottogruppo dei nanomateriali, ha visto un'impennata nella ricerca negli ultimi 30 anni. Gli studi sono stati condotti principalmente utilizzando la riflettometria neutronica e a raggi X.

La tecnica della riflettometria neutronica polarizzata o PNR è uno strumento non distruttivo unico per comprendere il magnetismo dei film sottili su scala mesoscopica. Questo libro presenta le tecniche di riflettometria a raggi X e neutronica e come possono essere utilizzate per esplorare la struttura dell'interfaccia e il magnetismo su scala mesoscopica in film sottili e multistrati. Il testo tratta i principi di base della riflettività dei neutroni e dei raggi X e le diverse modalità di riflettività dei neutroni con molti esempi utili.

Il testo di riferimento è utile per gli studenti di ricerca che lavorano nel campo del magnetismo di interfaccia nei film sottili e nei multistrati. Caratteristiche principali: Introduce il lettore al campo della riflettometria, in particolare alla riflettometria neutronica polarizzata e alla riflettometria a raggi X.

Familiarizza i ricercatori con l'importanza delle proprietà di interfaccia nei film sottili. Dimostra con esempi come sia possibile determinare le proprietà con una risoluzione inferiore al nanometro.

Fornisce una sintesi con un gran numero di esempi e riferimenti contemporanei.