Titolo originale:
On-Wafer Microwave Measurements and de-Embedding
Contenuto del libro:
Questa nuova risorsa autorevole presenta le basi delle apparecchiature di misura degli analizzatori di rete e la risoluzione degli errori coinvolti nel processo di misura delle microonde on-wafer.
Altre informazioni sul libro:
| ISBN: | 9781630810566 |
| Autore: | |
| Editore: | |
| Lingua: | inglese |
| Rilegatura: | Copertina rigida |
| Anno di pubblicazione: | 2016 |
| Numero di pagine: | 256 |
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