Metrologia ottica a tutto campo e applicazioni

Titolo originale:

Full Field Optical Metrology and Applications

Contenuto del libro:

I metodi e le tecniche di metrologia ottica a tutto campo esistono fin dai primi esperimenti di interferometria di Thomas Young nel XIX secolo. Questo libro introduce in modo più dettagliato le tecniche ottiche senza contatto basate sull'effetto speckle. Tratta anche la metrologia delle superfici ed esplora altre caratteristiche relative alla superficie, come la deformazione, le sollecitazioni, le vibrazioni, la sagomatura e gli spostamenti x, y e z (accoppiati come vettori in 2D e 3D). Inoltre, il libro presenta metodi moderni per il recupero di fase, la tomografia a coerenza ottica (OCT) e il metodo Moir.

Il libro prende in considerazione i fondamenti teorici ed esplora una serie di applicazioni per la metrologia ottica a tutto campo, che sono note per essere ampiamente utilizzate in molte aree di interesse come la biomedicina, il controllo di qualità, il telerilevamento e il sondaggio e la progettazione della produzione.

Gli scienziati e gli ingegneri alla ricerca di un libro di riferimento che fornisca un lavoro dettagliato sui metodi/tecniche della metrologia basata sullo speckle a tutto campo sono i destinatari principali di questo testo.

Caratteristiche principali

⬤ Fornisce le basi dell'argomento classico dell'interferometria.

⬤ Scopre diverse applicazioni della metrologia ottica a tutto campo che sono note per essere ampiamente utilizzate in molte aree di interesse, come la biomedicina, il controllo di qualità, il rilevamento e il sondaggio a distanza e la progettazione della produzione.

⬤ Include una descrizione completa della metodologia per eseguire l'interferometria olografica digitale 3D/speckle e l'olografia elettronica, entrambe non disponibili in altri testi.