Metodi di prova per il rilevamento dei guasti nei circuiti elettronici

Titolo originale:

Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits

Contenuto del libro:

Questo libro comprende due metodologie di test basate su sensori incorporati (BIS) e una tecnica basata sull'ottimizzazione. La prima parte propone due nuovi sensori incorporati (BIS) per il collaudo di circuiti digitali CMOS e analogici.

I BIS non hanno degrado di tensione, sono in grado di rilevare, identificare e localizzare guasti di circuito aperto e cortocircuito, hanno realizzazioni semplici con area e tempo di rilevamento molto ridotti. Il BIS è utilizzato per testare una cella moltiplicatrice 4x4 in cui tutti i guasti iniettati vengono rilevati e localizzati. L'altro BIS è dedicato al test dei circuiti analogici.

È stato applicato per testare due noti blocchi analogici, l'amplificatore operazionale a retroazione di corrente (CFOA) e l'amplificatore operazionale a resistenza (OTRA). Il BIS proposto testa le caratteristiche dei terminali dei blocchi analogici.

Vengono effettuate simulazioni per testare un filtro analogico universale basato su CFOA e un filtro universale basato su OTRA. La seconda parte propone un algoritmo di test per rilevare guasti parametrici singoli e doppi in un circuito analogico, stimando i valori effettivi dei parametri della CUT.

L'algoritmo viene applicato a un filtro passa-banda del secondo ordine di Sallen-Key e le simulazioni mostrano che tutti i guasti iniettati vengono rilevati e diagnosticati correttamente.