La pratica della TOF-SIMS: spettrometria di massa a ioni secondari a tempo di volo

Titolo originale:

The Practice of TOF-SIMS: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Contenuto del libro:

La spettrometria di massa a ioni secondari a tempo di volo, TOF-SIMS, è una tecnica analitica altamente sensibile alle superfici che fornisce informazioni sulla composizione con una risoluzione laterale submicronica. Per materiali selezionati, la TOF-SIMS offre una sensibilità senza pari e un'eccellente riproducibilità; inoltre, come tecnica di spettrometria di massa, fornisce un'eccellente specificità.

Tra i metodi analitici disponibili, è tra i più sensibili alle superfici, ma i principi fisici che ne sono alla base sono anche i meno compresi. Questo volume descrive la strumentazione, i principi fisici alla base della tecnica nella misura in cui sono stati compresi e fornisce un approccio pratico per l'interpretazione dei dati TOF-SIMS.

L'uso di metodi avanzati di elaborazione dei dati, come la statistica multivariata, è descritto in modo facilmente accessibile. Con una preparazione di base in chimica e fisica, il libro sarà utile a tutti gli studenti interessati a questa tecnica.