Introduzione all'elipsometria spettroscopica dei materiali a film sottile: Strumentazione, analisi dei dati e applicazioni

Titolo originale:

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Contenuto del libro:

Un testo unico nel suo genere che offre un'introduzione all'uso dell'ellissometria spettroscopica per la caratterizzazione di nuovi materiali

In Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications, un team di eminenti ricercatori offre un'esplorazione incisiva di come la tradizionale tecnica sperimentale dell'ellissometria spettroscopica venga utilizzata per caratterizzare le proprietà intrinseche di nuovi materiali. Il libro si concentra sui dicalcogenidi bidimensionali di metalli di transizione (2D-TMD), importanti dal punto di vista scientifico e tecnologico, sugli ossidi magnetici come la manganite e sui superconduttori non convenzionali, compresi i sistemi di ossido di rame.

Gli illustri autori discutono la caratterizzazione delle proprietà, come le strutture elettroniche, le proprietà interfacciali e la conseguente dinamica delle quasiparticelle nei nuovi materiali quantistici. Oltre a casi di studio illustrativi e specifici su come l'ellissometria spettroscopica viene utilizzata per studiare le proprietà ottiche e quasiparticellari di nuovi sistemi, il libro include: Introduzioni approfondite ai principi di base dell'ellissometria spettroscopica e ai sistemi fortemente correlati, compresi gli ossidi di rame e le manganiti Esplorazioni complete dei dicalcogenuri bidimensionali di metalli di transizione Discussioni pratiche dei sistemi di grafene a singolo strato e dei sistemi di nichelati Esami approfonditi dei potenziali sviluppi futuri e delle applicazioni dell'ellissometria spettroscopica

Perfetto per gli studenti di master e di dottorato in fisica e chimica, Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials si guadagnerà anche un posto nelle biblioteche di coloro che studiano scienze dei materiali e che cercano un riferimento unico per le applicazioni dell'ellissometria spettroscopica ai nuovi materiali sviluppati.