Imaging con correzione dell'aberrazione nella microscopia elettronica a trasmissione: Introduzione (2a edizione)

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Titolo originale:

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Contenuto del libro:

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy fornisce un'introduzione all'imaging in microscopia elettronica a risoluzione atomica con correzione dell'aberrazione nelle scienze fisiche e dei materiali. Copre sia la modalità di trasmissione a fascio largo (TEM; microscopia elettronica a trasmissione) sia la modalità di trasmissione a scansione (STEM; microscopia elettronica a trasmissione a scansione).

Il libro è strutturato in tre parti. La prima parte introduce le basi della microscopia elettronica convenzionale a risoluzione atomica in modalità TEM e STEM. Questa parte descrive anche i limiti dei microscopi elettronici convenzionali e i possibili artefatti causati dalle aberrazioni intrinseche delle lenti, inevitabili in questi strumenti.

La seconda parte introduce i concetti fondamentali dell'ottica elettronica e fornisce quindi una breve introduzione all'ottica elettronica. Sulla base della prima e della seconda parte del libro, la terza si concentra sulla correzione delle aberrazioni; descrive le varie aberrazioni nella microscopia elettronica e introduce i concetti di correttori dell'aberrazione sferica e di correttori avanzati dell'aberrazione, compresi i correttori dell'aberrazione cromatica.

Questa parte fornisce anche linee guida su come ottimizzare le condizioni di imaging per l'imaging STEM e TEM a risoluzione atomica. Questa seconda edizione è stata completamente rivista e aggiornata per incorporare i recentissimi risultati tecnologici e scientifici raggiunti dalla prima edizione del 2010.