Fisica e ingegneria dell'affidabilità: Modellazione del tempo di guasto

Recensioni dei lettori

Il libro è apprezzato per la copertura completa della fisica dell'affidabilità, con particolare attenzione all'affidabilità dei circuiti integrati (IC). È ben strutturato, inizia con i concetti fondamentali e progredisce verso argomenti complessi, supportati da esempi reali e problemi pratici.

Spiegazione approfondita della fisica dell'affidabilità, eccellente per le applicazioni ingegneristiche, forte enfasi sull'affidabilità dei circuiti integrati, approccio fondamentale alla termodinamica, esempi pratici e problemi per una migliore comprensione.

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Titolo originale:

Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling

Contenuto del libro:

Fornisce un testo completo sulla fisica dell'affidabilità dei semiconduttori, dai fondamenti alle applicazioni.

Spiega i fondamenti della fisica dell'affidabilità e gli strumenti di ingegneria per costruire prodotti migliori.

Contiene formazione e strumenti statistici all'interno del testo.

Include nuovi capitoli sulla fisica della degradazione, sulla risonanza e sulla degradazione indotta dalla risonanza.