Elaborazione quantitativa dei dati nella microscopia a scansione: Applicazioni Spm per la nanometrologia

Titolo originale:

Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: Spm Applications for Nanometrology

Contenuto del libro:

La misurazione accurata su scala nanometrica - la nanometrologia - è uno strumento fondamentale per le applicazioni avanzate della nanotecnologia, dove le quantità esatte e la precisione ingegneristica sono al di là delle capacità delle tecniche e degli strumenti di misura tradizionali.

La microscopia a scansione (SPM) costruisce un'immagine di un campione attraverso la scansione con una sonda fisica; non vincolata dalla lunghezza d'onda della luce o degli elettroni, la risoluzione ottenibile con questa tecnica può risolvere gli atomi. Gli strumenti SPM includono il microscopio a forza atomica (AFM) e il microscopio a tunnel a scansione (STM).

Nonostante gli enormi progressi della microscopia a scansione di sonda (SPM) negli ultimi vent'anni, il suo potenziale come strumento di misura quantitativo non è stato pienamente realizzato, a causa di problemi quali la complessità dell'interazione punta/campione. In questo libro, Petr Klapetek utilizza le ultime ricerche per rendere la SPM uno strumento per la nanometrologia in campi diversi come le nanotecnologie, la fisica delle superfici, l'ingegneria dei materiali, l'ottica dei film sottili e le scienze della vita. La notevole esperienza di Klapetek nell'elaborazione quantitativa dei dati, utilizzando strumenti software, gli consente non solo di spiegare le tecniche di microscopia, ma anche di demistificare l'analisi e l'interpretazione dei dati raccolti.

Oltre ai principi essenziali e alla teoria della metrologia SPM, Klapetek fornisce ai lettori una serie di esempi pratici per dimostrare i modi tipici di risolvere i problemi nell'analisi SPM. I dati di partenza per gli esempi e la maggior parte degli strumenti software open source descritti sono disponibili sul sito web allegato.