Caratterizzazione e controllo dei difetti nei semiconduttori

Titolo originale:

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Contenuto del libro:

Una rassegna aggiornata dei metodi sperimentali e teorici utilizzati per lo studio dei difetti nei semiconduttori, questo libro si concentra sui recenti sviluppi guidati dalle esigenze di nuovi materiali, tra cui i nitruri, i semiconduttori ossidici e i semiconduttori bidimensionali.

Scritto da un team internazionale e curato da uno stimato ricercatore del settore, il libro fornisce una copertura approfondita di una varietà di tecniche di caratterizzazione e suggerisce metodi per controllare i difetti e quindi le proprietà dei semiconduttori.